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Surtronic S128泰勒霍普森粗糙度儀 USB連接 通過行業(yè)標準A類型USB接口和迷你USB接口，S-100系列測量儀能夠對多種標準裝置提供多種連接選擇。 A類型USB A類型USB接口能夠用于連接便攜式打印機（ESC/POS兼容），參見“配件“頁或者標準USB儲存裝置，儲存結果、初始數(shù)據(jù)或者屏幕圖像。
S116 Surtronic泰勒霍普森粗糙度儀 USB連接 通過行業(yè)標準A類型USB接口和迷你USB接口，S-100系列測量儀能夠對多種標準裝置提供多種連接選擇。 A類型USB A類型USB接口能夠用于連接便攜式打印機（ESC/POS兼容），參見“配件“頁或者標準USB儲存裝置，儲存結果、初始數(shù)據(jù)或者屏幕圖像。
UVCTest材料降解儀器使用亞太拉斯 UVCTest，研究暴露在以254nm為峰值的殺菌消毒UV-C輻射下，紡織品、塑料、油漆和產(chǎn)品的老化情況。
SEPAPMHE光老化分析儀Atlas SEPAP MHE光老化分析儀是為了加快高分子聚合物的加速光老化而設計，目的在于了解暴露在戶外的高分子聚合物的老化機理，并在分子水平上研究化學演化。
力科T3SP15D差分時域反射計 T3SP10D（10 GHz）和T3SP15D（15 GHz）通過真正的差分信號激勵DUT，TDR提供50 ps（T3SP10D）和35 ps（T3SP15D）的快速上升時間，故障分辨率（FR4）分別為4.2 mm和3 mm，DUT長度可達40 m，TDR采樣率最高可達10 MHz，并使用與矢量網(wǎng)絡分析儀相同的OSL校準標準。 由于外形小巧，重量輕，可選內(nèi)部電池
聯(lián)訊rBT1250 10G突發(fā)誤碼分析儀 rBT1250 專門針對 EPON、GPON 、XGPON及XGSPON應用突發(fā)誤碼測試及分析。 rBT1250提供3個獨立通道數(shù)據(jù)碼型發(fā)生器和誤碼探測，支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析。碼型時序靈活可調(diào)，并針對器件測試需求，給相應測試通道提供同步的激光器使能、模塊復位信號等低速控制通道。而且rBT1250 內(nèi)置時鐘恢復，可以自動測距，對長纖測試毫無問題。從
聯(lián)訊PBT8812 53GBaud PAM4誤碼儀 聯(lián)訊儀器 pBT8812 高性能8x112Gb/s誤碼分析儀，可支持多至8組業(yè)務通道。 - 各通道可獨立配置為NRZ或PAM4信號制式。 - 速率最高可支持56 GBaud (112Gb/s@Pam4)。
聯(lián)訊PBT8856 PAM4誤碼儀28GBaud 多通道：1/2/4/8路PAM4碼型發(fā)生器及誤碼探測器通道； 速率（準）連續(xù)可調(diào)：25/25.78125/26.56/27.89/28.125GBaud標準測試速率； 輸出幅度可調(diào)
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