Chroma致茂Model 19501局部放電測(cè)試器設(shè)備產(chǎn)品特色

·交流高壓輸出&PD量測(cè)與主機(jī)分離式設(shè)計(jì)

·內(nèi)建法規(guī)測(cè)試要求的測(cè)試方法

·三段電壓測(cè)試方法

·PD測(cè)量結(jié)果數(shù)值顯示(pC)

·PD不良發(fā)生次數(shù)判定設(shè)定(1~10)

·USB畫面擷取功能

·圖像化輔助編輯功能

·標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232遠(yuǎn)端控制接口

·繁中/簡(jiǎn)中/英文操作接口

Chroma致茂Model 19501局部放電測(cè)試器設(shè)備可提供交流耐電壓測(cè)試(Hipot Test)量測(cè)待測(cè)物上的漏電(Leakage Current)與電氣閃絡(luò)(Flashover)，以及提供局部放電(Partial Discharge,PD)測(cè)試量測(cè)被測(cè)物上局部放電的電荷量(pC)對(duì)高壓元件與高耐壓的絕緣材料進(jìn)行交流耐電壓與局部放電測(cè)試，可確保產(chǎn)品的絕緣品質(zhì)與提升產(chǎn)品的可靠度。

19501的設(shè)計(jì)符合法規(guī)IEC60270-1對(duì)局部放電量測(cè)的要求。局部放電量的量測(cè)結(jié)果以直觀的電荷數(shù)(pC)將測(cè)試結(jié)果顯示在主機(jī)螢?zāi)簧稀Ｍ瑫r(shí)也參考了法規(guī)IEC60747與VDE0884的要求，將測(cè)試方法設(shè)計(jì)于儀器內(nèi)，讓用戶可以更便利的進(jìn)行操作與設(shè)定。

當(dāng)絕緣體內(nèi)存在氣泡(Void)或絕緣體間存在氣隙(Air gap)時(shí)，在正常工作電壓下，氣泡或氣隙有較高的電場(chǎng)強(qiáng)度可能導(dǎo)致局部放電(PD)發(fā)生。當(dāng)電源系統(tǒng)的應(yīng)用元件(譬如:光耦合器、數(shù)位隔離器、IGBT、變壓器、馬達(dá)等)長(zhǎng)時(shí)間發(fā)生持續(xù)性的局部放電，絕緣材料因長(zhǎng)時(shí)間的劣化導(dǎo)致絕緣失效，進(jìn)而造成人身安全的問(wèn)題。因此，法規(guī)建議或要求對(duì)元件執(zhí)行局部放電的檢測(cè)。例如:IEC60747-5-5要求光耦合器于生產(chǎn)過(guò)程中(Routine test)必須100%執(zhí)行局部放電(PD)的檢測(cè)，在最大絕緣電壓的條件下不可以發(fā)生超過(guò)5pC的局部放電，確保產(chǎn)品在正常的工作電壓下不會(huì)發(fā)生局部放電(PD)。

局部放電 Partial Discharge

當(dāng)絕緣體內(nèi)存在氣泡(Void)或絕緣體間存在氣隙(Air gap)時(shí)，在正常工作電壓下氣泡或氣隙容易發(fā)生局部放電，導(dǎo)致絕緣劣化造成絕緣品質(zhì)異常，為何局部放電容易發(fā)生在樹(shù)酯內(nèi)的氣泡或漆包線間的氣隙因?yàn)榭諝獾慕殡娤禂?shù)較低，氣泡或氣隙的電容量比原絕緣材料低，所以會(huì)分到相對(duì)高比例的電壓，且在相同間隙距離條件下，氣泡或氣隙的崩潰電壓比絕緣材料的低。此類放電發(fā)生于氣泡或氣隙等局部瑕疵，但與其串列之絕緣材仍維持正常的放電現(xiàn)象稱之為局部放電。

當(dāng)對(duì)被測(cè)物施加足夠的測(cè)試電壓時(shí)，利用局部放電偵測(cè)功能量測(cè)放電的電荷量(pC)，確認(rèn)被測(cè)物的絕緣材料是否有絕緣品質(zhì)異常的潛在風(fēng)險(xiǎn)。故施加一個(gè)略高于元件最高的額定工作電壓對(duì)元件局部放電測(cè)試，確保元件長(zhǎng)時(shí)間在正常工作電壓下的可靠性(無(wú)持續(xù)性的局部放電)。

絕緣材料內(nèi)存在氣泡

Ca:絕緣材料的等效電容(電極之間無(wú)氣泡的部分)

Cc:氣泡(Void)的等效電容

Cb:絕緣材料的等效電容(電極之間與氣泡串聯(lián)的部分)